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Lumetrics測厚儀是基于光學(xué)干涉原理設(shè)計的。當(dāng)光線通過物體時，會發(fā)生干涉現(xiàn)象，根據(jù)干涉的特性可以推斷出物體的厚度。利用光學(xué)干涉技術(shù)，通過測量光線的干涉圖案來確定物體的厚度。它使用一束激光光源照射在被測物體表面，光線經(jīng)過物體后會發(fā)生干涉，然后通過檢測器采集干涉圖案，通過算法處理得到物體的厚度信息。它具有高精度的測量能力。由于采用了光學(xué)干涉原理，可以實現(xiàn)亞微米級甚至納米級的測量精度，非常適用于對薄膜、涂層等薄型材料的測量。其次，具有非接觸測量的特點，不會對被測物體造成損傷或...

光學(xué)玻璃應(yīng)力測量是種非接觸式的測量方法，用于測量物體表面的應(yīng)力分布情況。它基于光學(xué)原理和材料力學(xué)性質(zhì)的相互作用，通過測量物體表面的力學(xué)變形來推斷應(yīng)力分布。利用光學(xué)原理和材料力學(xué)性質(zhì)的相互作用實現(xiàn)對物體表面應(yīng)力分布的測量。它具有非接觸、高精度和實時監(jiān)測等優(yōu)點，適用于多種應(yīng)力分布的測量和分析領(lǐng)域。光學(xué)玻璃應(yīng)力測量基于三個主要步驟：光束傳輸、受力變形和光強檢測。光束傳輸：使用激光器產(chǎn)生一束平行光束，然后通過透鏡系統(tǒng)將光束聚焦到待測物體表面上。這個聚焦過程使得光束的直徑減小，并且提高...

激光測厚儀是常用的非接觸式測量儀器，用于測量物體的厚度。它利用激光光源發(fā)射出的激光束進行測量，通過測量激光的反射或透過程度來確定物體的厚度值。激光測厚儀的主要部件包括激光發(fā)射器、接收器和信號處理模塊：發(fā)射激光束：通過激光發(fā)射器產(chǎn)生一束單色、相干性強的激光束。這些激光束通常是紅色或綠色的，并具有較窄的波長范圍。照射目標(biāo)物體：激光束被照射到待測量的物體表面。激光光束在與物體接觸時會發(fā)生不同程度的散射、吸收或透射。接收反射光：接收器會接收被物體表面反射回來的激光，并將其轉(zhuǎn)換為電信號...

光束質(zhì)量分析儀(BeamMassSpectrometer)主要是利用帶電量與質(zhì)量之比的差異，在外加高頻電場的作用下對不同種類的氣體分子進行質(zhì)譜分析。構(gòu)成由四大部分組成：離子化裝置、選擇器、檢測器和信號采集與處理系統(tǒng)。其中，離子化裝置通過碰撞、放電或激光等作用將待測試氣體分子轉(zhuǎn)化為帶電離子，并將其引入選擇器。而選擇器則通過不同形式的高頻電場的協(xié)同作用對質(zhì)量相近的離子進行篩選和聚焦，形成一個質(zhì)量能量很少變化的離子束。檢測器則岸上信號采集與處理系統(tǒng)對離子束的信息進行收集和處理，生成...

應(yīng)力雙折射儀是一種用于測量光線經(jīng)過單軸晶體時的雙折射現(xiàn)象的儀器。其工作原理基于它們的物質(zhì)學(xué)性質(zhì)，即單軸晶體沿一個方向具有高度對稱性，沿其他兩個方向則沒有對稱性。這使得單軸晶體對于進入的光線在兩個反向傳播方向上表現(xiàn)出不同的折射率。例如，若將一束與晶體軸夾角相等的地面光投入樣品，其中一束光會同時沿著晶體軸和眾多不同的方位產(chǎn)生折射；而另一束僅縱向通過晶體。由兩部分組成：樣品和偏振器(Polarizer)。一個固定的偏振器放在樣品前面，以控制作用在晶體上的光源偏振狀況。然后光通過樣品...

2023年4月7日分別在杭州、天津和長沙舉行三場學(xué)術(shù)會議。昊然偉業(yè)作為三場會議贊助商誠摯邀請各位蒞臨。以下是三個學(xué)術(shù)會議的詳細信息：第三屆人工晶體材料青年學(xué)術(shù)會議會議召開日期：2023年4月7—9日會議地點：杭州·杭州富陽瑞萊克斯大酒店會議專題1、晶體生長原理與數(shù)值模擬2、激光與非線性光學(xué)晶體3、輻射探測晶體4、半導(dǎo)體晶體與器件5、電/聲/磁及其他功能晶體6、人工微結(jié)構(gòu)與特殊環(huán)境晶體生長7、透明陶瓷材料第二十五屆全國激光學(xué)術(shù)會議會議召開日期：2023年4月7—10日會議地點：...