熱門(mén)關(guān)鍵詞: 測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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簡(jiǎn)要描述:美國(guó)Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測(cè)量技術(shù)于1999年推出,型號(hào)為150AT,為客戶提供技術(shù),具生產(chǎn)價(jià)值的測(cè)量雙折射的能力。Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術(shù)的產(chǎn)品,該技術(shù)推出了超低雙折射光彈性調(diào)制器(PEM)。
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