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熱門關(guān)鍵詞： 測角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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光學(xué)玻璃應(yīng)力測量占地小-大限度地減少設(shè)備所需的工廠空間；平臺設(shè)計-使可測量面積盡可能大；強(qiáng)大的自動化-質(zhì)量階段和硬件正常運行時間。
Hinds 儀器的應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)Exico-150AT是Exicor®雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺。 該系統(tǒng)具有足夠的多樣性，在生產(chǎn)車間和研發(fā)實驗室環(huán)境中均可勝任。 該模型廣泛用于研究和工業(yè)中測量組件; 如光掩膜和光刻膠、DVD空白、塑料薄膜、透鏡毛坯、激光晶體、手機(jī)顯示窗、注塑件等等。 臺式設(shè)計和直觀的自動掃描軟件使該產(chǎn)品成為高價值精密光學(xué)元件和商品光學(xué)元件（高達(dá)150mm X 15）
應(yīng)力儀